Die Summenfrequenz-Spektroskopie ist eine leistungsfähige und vielseitige Messmethode zur „in-situ“ Messung von Oberflächen und Grenzflächen. Hierbei erfasst man spezifisch nur die Beiträge aus der Grenzfläche, jedoch nicht die aus dem Bulkmaterial. Dies erklärt die hohe Empfindlichkeit des Messverfahrens, mit dem selbst Monolagen von Molekülen an der Grenzfläche in Hinblick auf Art und Orientierung bestimmt werden können. Aber auch dynamische Prozesse, wie Oberflächenreaktionen an Katalysatoren sind mit dem SFG-Verfahren experimentell zugänglich. Eine Vielzahl von SFG-Anwendungen haben sich in den letzten Jahren etabliert (siehe Prospekt). Ein SFG System besteht im wesentlichen aus der Anregungslichtquelle (hier: Nd:YAG-Pikosekundenpumplaser mit abstimmbaren OPG), dem SFG-Detektionssystem (Monochromator, Photomultiplier, etc.) inkl. Strahlführungsoptiken und Steuerungs- bzw. Auswertesoftware.

 

Aufbauend auf der über 13-jährigen Erfahrung unseres Herstellers EKSPLA im Bereich der SFG Messtechnik bietet TOPAG komplette SFG-Spektrometer, inkl. kundenspezifischer Anpassung und umfassendem Service. Aber auch die jeweiligen Einzelkomponenten sind separat erhältlich.

 

Nutzen Sie unsere langjährige Erfahrung. Wir beraten Sie gerne!